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国内刊号：11-2223/N
国际刊号：1000-0054
发布日期:
作者：张云, 姜楠, 王立平
单位：清华大学 机械工程系, 精密超精密制造装备及控制北京市重点实验室, 北京 100084
关键词：数控转台,Wiener过程,极大似然估计,可靠性估计
基金：国家科技重大专项（2016ZX04004-004）
针对数控转台性能退化过程较为缓慢且存在波动的特点，采用Wiener过程进行数学建模，利用极大似然法结合试验数据分析模型中各未知参数的特点。根据分析结果将模型中的漂移系数和扩散系数设为恒定值，假设性能退化初值服从正态分布，得出数控转台的相关可靠性函数，并与基于伪寿命分布法得出的结果进行比较。结果表明：基于Wiener过程得出的结果较基于伪寿命分布法得出的结果更加符合实际情况。
来源：2019年第2期
《清华大学学报(自然科学版)》期刊编辑部
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