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国内刊号:11-2223/N
国际刊号:1000-0054
发布日期:
作者:凌亚涛, 赵争鸣
单位:清华大学 电机工程与应用电子技术系, 北京 100084
关键词:SiC MOSFET,开关非理想特性,主动栅极驱动(AGD),变换器
基金:国家电网有限公司科技项目资助(SGHB0000KXJS1900586)
主动栅极驱动(AGD)通过控制栅极侧来优化碳化硅MOSFET器件的开关特性,但是目前对AGD性能的研究一般仅限于双脉冲实验,无法充分说明AGD在变换器中的实际作用,也没有说明AGD可以长期连续运行。该文作者此前已提出了一种针对绝缘栅双极型晶体管(IGBT)的AGD方法,该文进一步研究了将所提方法用于碳化硅-金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)时需要补偿的参数,并用双脉冲实验验证了其相对于常规驱动(CGD)和已有的AGD方法的性能优势。结果表明,相对CGD,所提方法可以降低开通延迟、开通损耗、关断延迟、关断损耗分别达53%、30%、65%、67%。搭建了Buck电路,将所提驱动方法应用到Buck电路,验证其带来的开关过冲、变换器效率等的改善。在过冲相同时,所提方法与CGD相比,可提升变换器效率达0.3%~1%。
来源:2021年第10期
《清华大学学报(自然科学版)》期刊编辑部
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